本书作者从应用角度筛选了54个核心工艺议题,对其进行总结与解析,指出要领,作为本书的上篇。同时,精心选编了103个典型案例,图文并茂地介绍了缺陷的特征、常见原因及改进措施,作为本书的下篇。
本书适合有一定SMT从业经验的人员使用,也可供大专院校电子装联专业的学生参考。
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书名 | SMT核心工艺解析与案例分析 |
分类 | 科学技术-工业科技-电子通讯 |
作者 | 贾忠中 |
出版社 | 电子工业出版社 |
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简介 | 编辑推荐 本书作者从应用角度筛选了54个核心工艺议题,对其进行总结与解析,指出要领,作为本书的上篇。同时,精心选编了103个典型案例,图文并茂地介绍了缺陷的特征、常见原因及改进措施,作为本书的下篇。 本书适合有一定SMT从业经验的人员使用,也可供大专院校电子装联专业的学生参考。 内容推荐 本书分上下两篇。上篇汇集了表面组装技术的54项核心工艺,从工程应用的角度,全面、系统地对SMT的应用原理进行了解析和说明,对深刻理解其工艺原理、指导实际生产有很大帮助;下篇精选了103个典型案例,较全面地讲解了实际生产中遇到的、由各种因素引起的工艺问题,对处理生产现场问题、提高组装的可靠性具有较强的指导、借鉴作用。 本书形式新颖,内容全面,重点突出,是一本不可多得的应用指导工具书,适合有一定经验的电子装联工程师使用,也可作为大专院校电子装联专业学生的参考书。 目录 上篇 表面组装核心工艺解析/1 第1章 表面组装核心工艺解析 1.1 焊膏/3 1.2 失活性焊膏/8 1.3 钢网设计/10 1.4 钢网开孔、焊盘与阻焊层的不同组合对焊膏量的影响/16 1.5 焊膏印刷/17 1.6 再流焊接炉/21 1.7 再流焊接炉温的设定与测试/25 1.8 波峰焊/37 1.9 通孔再流焊接设计要求/55 1.10 选择性波峰焊/56 1.11 01005组装工艺/61 1.12 0201组装工艺/62 1.13 0.4mmCSP组装工艺/64 1.14 POP组装工艺/65 1.15 BGA组装工艺/67 1.16 BGA的角部点胶加固工艺/68 1.17 陶瓷柱状栅阵列元件(CCGA)的焊接/69 1.18 晶振的装焊要点/70 1.19 片式电容装焊工艺要领/72 1.20 铝电解电容膨胀变形对性能的影响评估/74 1.21 子板/模块铜柱引出端的表贴焊接工艺/75 1.22 无铅工艺条件下微焊盘组装的关键/77 1.23 BGA混装工艺/78 1.24 无铅烙铁的选用/84 1.25 柔性板组装工艺/85 1.26 不当的操作行为/86 1.27 无铅工艺/88 1.28 RoHS/90 1.29 再流焊接Bottom面元件的布局考虑/91 1.30 PCB表面处理工艺引起的质量问题/92 1.31 PCBA的组装流程设计考虑/102 1.32 厚膜电路的可靠性设计/105 1.33 阻焊层的设计/107 1.34 焊盘设计尺寸公差要求及依据/108 1.35 元件间距设计/109 1.36 热沉效应在设计中的应用/110 1.37 多层PCB的制作流程/111 1.38 常用焊料的合金相图/112 1.39 金属间化合物/114 1.40 黑盘/117 1.41 焊点质量判别/118 1.42 X射线设备工作原理/122 1.43 元件的耐热要求/124 1.44 PBGA封装体翘曲与湿度、温度的关系/125 1.45 PCB耐热性能参数的意义/127 1.46 PCB的烘干/128 1.47 焊接工艺的基本问题/129 1.48 工艺控制/131 1.49 重要概念/132 1.50 焊点可靠性与失效分析的基本概念/133 1.51 散热片的粘贴工艺/134 1.52 湿敏器件的组装风险/135 1.53 Underfill胶加固器件的返修/136 1.54 散热器的安装方式引起元件或焊点损坏/137 下篇 典型工艺案例分析/139 第2章 由综合因素引起的组装不良 2.1 密脚器件的桥连/141 2.2 密脚器件虚焊/143 2.3 气孔或空洞/144 2.4 元件侧立、翻转/145 2.5 BGA空洞/146 2.6 BGA空洞(特定条件:混装工艺)/148 2.7 BGA空洞(特定条件:HDI板)/149 2.8 BGA虚焊/150 2.9 BGA球窝现象/151 2.10 BGA冷焊/152 2.11 BGA冷焊(特定条件:有铅焊膏焊无铅BGA)/153 2.12 BGA焊盘不润湿/154 2.13 BGA焊盘不润湿(特定条件:焊盘无焊膏)/155 2.14 BGA黑盘断裂/156 2.15 BGA焊点热机械应力断裂/157 2.16 BGA焊点混装工艺型断裂/160 2.17 BGA焊点机械应力断裂/177 2.18 BGA热重熔断裂/180 2.19 BGA结构型断裂/182 2.20 BGA返修工艺中出现的桥连/184 2.21 BGA焊点间桥连/186 2.22 BGA焊点与邻近导通孔锡环间桥连/187 2.23 ENIG盘/面焊料污染/188 2.24 ENIG盘/面焊剂污染/189 2.25 锡球(特定条件:再流焊工艺)/190 2.26 锡球(特定条件:波峰焊工艺)/191 2.27 立碑/193 2.28 锡珠/195 2.29 插件元件桥连/196 2.30 PCB变色,但焊膏没有熔化/197 2.31 元件移位/198 2.32 元件移位(特定条件:设计/工艺不当)/199 2.33 元件移位(特定条件:较大尺寸热沉焊盘上有盲孔)/200 2.34 元件移位(特定条件:元件下导通孔塞孔不良)/201 2.35 通孔再流焊插针太短导致气孔/202 2.36 测试设计不当,造成焊盘烧焦并脱落/203 2.37 QFN虚焊与少锡(与散热焊盘有关的问题)/204 2.38 热沉元件焊剂残留物聚集现象/205 2.39 热沉焊盘导热孔底面冒锡/206 2.40 热沉焊盘虚焊/208 2.41 片式电容因工艺引起的开裂失效/209 2.42 变压器、共模电感开焊/211 2.43 铜柱连接块开焊/212 2.44 POP虚焊/213 第3章 由PCB设计或加工质量引起的组装不良 3.1 无铅HDI板分层/214 3.2 BGA拖尾孔/215 3.3 ENIG板波峰焊后插件孔盘边缘不润湿现象/216 3.4 ENIG面区域性麻点状腐蚀现象/218 3.5 OSP板波峰焊接时金属化孔透锡不良/219 3.6 OSP板个别焊盘不润湿/221 3.7 OSP板全部焊盘不润湿/222 3.8 喷纯锡对焊接的影响/223 3.9 ENIG镀孔的压接性能/224 3.10 PCB光板过炉(无焊膏)焊盘变深黄色/225 3.11 HDI孔板制造异常引起空洞大孔化/226 3.12 超储存期板焊接分层/227 3.13 PCB局部凹陷,造成焊膏桥连/228 3.14 BGA下导通孔阻焊偏位/229 3.15 导通孔藏锡珠现象及危害/230 3.16 单面塞孔质量问题/231 3.17 PTH孔口色浅/232 3.18 丝印字符过炉变紫/233 3.19 CAF引起的PCBA失效/234 3.20 元件下导通孔塞孔不良导致元件移位/236 第4章 由元件封装引起的组装不良 4.1 银电极浸析/237 4.2 片式排阻虚焊(开焊)/238 4.3 QFN虚焊/239 4.4 元件热变形引起的开焊/240 4.5 SLUG-BGA的虚焊/241 4.6 BGA焊盘下PCB次表层树脂开裂/242 4.7 片式元件两端电镀尺寸不同导致立片/244 4.8 陶瓷板塑封模块焊接时内焊点桥连/245 4.9 全矩阵BGA的返修(角部焊点桥连或心部焊点桥连)/246 4.10 铜柱引线的焊接(焊点断裂)/247 4.11 堆叠封装焊接造成内部桥连/248 4.12 片式排阻虚焊/249 4.13 手机EMI器件的虚焊/250 4.14 FCBGA的翘曲/251 4.15 复合器件内部开裂(晶振内部)/252 4.16 连接器压接后偏斜/253 4.17 引脚伸出PCB太长,导致通孔再流焊“球头现象”/254 第5章 由设备引起的组装不良 5.1 再流焊后,PCB表面出现坚硬黑色异物/255 5.2 再流焊接炉链条颤动引起元件移位/256 5.3 再流焊接炉导轨故障使单板烧焦/257 5.4 贴片机PCB夹持工作台上下运动引起重元件移位/258 5.5 贴片机贴放时使屏蔽架变形/259 第6章 由设计因素引起的组装不良 6.1 HDI板焊盘上的微盲孔引起的少锡/开焊/260 6.2 焊盘上的金属化孔引起的冒锡球现象/261 6.3 BGA附近有紧固件,无工装装配时引起BGA焊点断裂/262 6.4 散热器螺钉布局不合理引起周边BGA的焊点断裂/263 6.5 模块电源的压合工艺引起片式电容器开裂/264 第7章 由手工焊接、三防工艺引起的组装不良 7.1 焊剂残留物引起的绝缘电阻下降/265 7.2 焊点表面残留焊剂白化/266 7.3 强活性焊剂引起焊点间短路/267 7.4 焊点附近三防漆变白/268 7.5 导通孔焊盘及元件焊端发黑/269 第8章 由操作引起的焊点断裂和元件撞掉 8.1 不当拆除连接器操作使SOP引脚拉断/270 8.2 机械冲击引起BGA焊点脆断/272 8.3 多次弯曲造成BGA焊盘被拉断/273 8.4 PCBA无支撑时安装螺钉导致BGA焊点拉断/274 8.5 散热器螺钉引起周边BGA焊点压扁或拉断/275 8.6 元件被周转车导槽撞掉/ 276 8.7 手工焊接时元件被搓掉/277 附录 缩略 |
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