吴洪江、高学邦等著的《雷达收发组件芯片技术》以雷达收发组件用芯片套片的形式系统介绍了发射芯片、接收芯片、幅相控制芯片、波控驱动器芯片、电源管理芯片的设计和测试技术及与之相关的平台技术、实验技术和应用技术。同时对先进的收发多功能芯片、幅相控制多功能芯片、变频放大多功能芯片、毫米波芯片等进行了简要介绍。

第1章 雷达收发组件概述
1.1 引言
1.2 雷达分类
1.2.1 机械扫描雷达
1.2.2 相控阵雷达
1.3 T／R组件
1.3.1 T／R组件在雷达中的作用
1.3.2 T／R组件的技术特点
1.3.3 T／R组件的工作原理
1.3.4 T／R组件的技术指标
1.3.5 T／R组件的制造工艺
1.3.6 T／R组件的发展趋势
参考文献
第2章 雷达收发组件用核心芯片及其平台技术
2.1 引言
2.2 T／R组件核心芯片
2.2.1 T／R组件核心芯片组成
2.2.2 半导体核心芯片主要类型
2.2.3 半导体核心芯片的技术特点
2.2.4 半导体核心芯片的技术指标
2.3 T／R组件用半导体芯片技术平台
2.3.1 外延材料技术平台
2.3.2 工艺制造技术平台
2.3.3 设计技术平台
2.3.4 测试技术平台
2.3.5 可靠性技术平台
参考文献
第3章 雷达收发组件发射芯片
3.1 引言
3.2 功率器件模型技术
3.2.1 模型概述
3.2.2 小信号模型
3.2.3 大信号模型
3.3 驱动放大器芯片
3.3.1 驱动放大器芯片设计技术
3.3.2 驱动放大器芯片测试技术
3.4 高功率放大器芯片
3.4.1 高功率放大器芯片设计技术
3.4.2 高功率放大器芯片测试技术
3.4.3 驱动放大器和功率放大器的级联
参考文献
第4章 雷达收发组件接收芯片
4.1 引言
4.2 限幅器芯片
4.2.1 PIN二极管模型技术
4.2.2 限幅器芯片设计技术
4.2.3 限幅器芯片测试技术
4.3 低噪声放大器芯片
4.3.1 低噪声放大器模型技术
4.3.2 低噪声放大器芯片设计技术
4.3.3 低噪声放大器芯片测试技术
4.3.4 限幅器和低噪声放大器的级联
参考文献
第5章 雷达收发组件幅相控制芯片
5.1 引言
5.2 开关器件模型技术
5.2.1 开关模型提取技术
5.2.2 开关模型测试技术
5.3 移相器芯片
5.3.1 移相器芯片设计技术
5.3.2 移相器芯片测试技术
5.4 衰减器芯片
5.4.1 衰减器芯片设计技术
5.4.2 衰减器芯片测试技术
5.5 开关芯片
5.5.1 开关芯片设计技术
5.5.2 开关芯片测试技术
参考文献
第6章 雷达收发组件波控驱动器芯片
6.1 引言
6.2 波控驱动器芯片主要技术指标
6.3 CMOs波控驱动器芯片
6.3.1 CMOS器件模型
6.3.2 CMOS单路和并行多路波控驱动器芯片设计技术
6.3.3 CMOS串转并波控驱动器芯片设计技术
6.4 GaAs波控驱动器芯片
6.4.1 GaAs器件模型
6.4.2 GaAs单路波控驱动器芯片设计技术
6.4.3 GaAs串转并波控驱动器芯片设计技术
6.5 波控驱动器芯片测试技术
参考文献
第7章 电源管理芯片
7.1 引言
7.2 开关稳压型电源芯片
7.2.1 开关稳压型电源芯片设计技术
7.2.2 开关稳压型电源芯片测试技术
7.3 线性稳压型电源芯片
7.3.1 线性稳压型电源芯片设计技术
7.3.2 线性稳压型电源芯片测试技术
7.4 开关电容式电压逆变器
7.4.1 开关电容式电压逆变器设计技术
7.4.2 开关电容式电压逆变器测试技术
7.5 PA栅极偏置电源芯片
7.5.1 PA栅极偏置芯片设计技术
7.5.2 PA栅极偏置芯片测试技术
7.6 电源调制芯片
7.6.1 电源调制芯片设计技术
7.6.2 电源调制芯片测试技术
7.7 电源管理芯片版图技术
7.7.1 功率管设计
7.7.2 电源线、地线布局
7.7.3 元器件的匹配设计
7.7.4 基准源的布局设计
7.7.5 避免衬底噪声的设计
7.7.6 互连线设计
7.7.7 闩锁效应(Latch-up)考虑
7.7.8 其他注意事项
参考文献
第8章 雷达收发组件新技术芯片
8.1 引言
8.2 多功能芯片
8.2.1 收发一体多功能芯片
8.2.2 幅相控制多功能芯片
8.2.3 一片式T／R芯片
8.2.4 变频放大多功能芯片
8.2.5 矢量调制多功能芯片
8.3 宽禁带半导体芯片
8.3.1 宽禁带半导体材料与器件特点
8.3.2 GaN宽禁带器件MMIC设计技术
8.4 毫米波芯片
8.4.1 毫米波芯片模型与芯片设计技术
8.4.2 毫米波芯片测试
8.4.3 毫米波芯片应用
参考文献
第9章 雷达收发组件芯片可靠性试验技术与失效分析
9.1 引言
9.2 芯片的失效规律
9.3 芯片可靠性筛选技术
9.3.1 芯片可靠性筛选特点
9.3.2 芯片可靠性筛选程序
9.4 芯片可靠性应用验证评价技术
9.4.1 工艺与结构验证
9.4.2 应用失效分析验证
9.4.3 匹配适应性验证试验
9.4.4 寿命试验评价
9.5 芯片的主要失效模式和失效机理
9.5.1 芯片主要失效模式(按功能参数)
9.5.2 芯片失效机理
9.6 芯片失效分析技术
9.6.1 芯片失效分析流程
9.6.2 失效分析技术展望
参考文