“透射电子显微学”这门课程所用的教科书有许多种。本书为全英文版，是美国最为流行的教科书之一。本书分基本概念，衍射理论，成像原理以及能谱分析四卷。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念；第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法；第3卷主要是关于成像原理，该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍；第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。

本书不仅可以在国内科技英文教学方面作为一个具有国际工程院系的教学标准，也为一般的大专院校和科技单位的研究工作提供了一本内容丰富、机具科研价值的参考书。

本书是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。

本书作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。

Ⅰ Basics

1 The Transmission Electron Microscope

2 Scattering and Diffraction

3 Elastic Scattering

4 Inelastic Scattering and Beam Damage

5 Electron Sources

6 Lenses,Apertures,and Resolution

7 How to“See”Electrons

8 Pumps and Holders

9 The Instrument

10 Specimen Preparation

Ⅱ Diffraction

11 Diffraction Patterns

12 Thinking in Reciprocal Space

13 Diffracted Beams

14 Bloch Waves

15 Dispersion Surfaces

16 Diffraction from Crystals

17 Diffraction from Small Volumes

18 Indexing Diffraction Patterns

19 Kikuchi Diffraction

20 Obtaining CBED Patterns

21 Using Convergent-Beam Techniques

Ⅲ Imaging

22 Imaging in the TEM

23 Thickness and Bending Effects

24 Planar Defects

25 Strain Fields

26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy

27 Phase-Contrast Images

28 High-Resolution TEM

29 Image Simulation

30 Quantifying and Processing HRTEM Images

31 Other Imaging Techniques

Ⅳ Spectrometry

32 X-ray Spectrometry

33 The XEDS-TEM Iterface

34 Qualitative X-ray Analysis

35 Qualitative X-ray Microanalysis

36 Spatial Resolution and Minimum Detectability

37 Electron Energy-Loss Spectrometers

38 The Energy-Loss Spectrum

39 Microanalysis with lonization-Loss Electrons

40 Everything Else in the Spectrum