前言
上篇·入门与管理
章
测量系统分析概论
1.1可靠性研究的发展历史//002
1.2测量系统分析的起源与发展//005
第2章
测量系统分析的价值与意义
2.1IATF16949对测量系统分析的要求//008
2.2测量系统分析的应用范畴//011
2.2.1测量系统分析在质量管控中的应用//011
2.2.2测量系统分析在过程能力研究中的应用//013
2.2.3测量系统分析在研发领域的重要作用//018
2.2.4测量系统分析在六西格玛管理中的地位//019
2.3测量系统分析与组织的实际收益//021
第3章
测量系统分析对组织管理的要求
3.1组织的决策层对测量系统分析工作的影响//025
3.2测量系统分析管理工作的认知误区//026
3.3测量系统分析管理工作模式//028
3.4管理工作的标准化//031
中篇·理论与提高
第4章
测量数据
4.1对测量数据质量的期望//036
4.2测量数据的分类//037
第5章
重要的概念
5.1与MSA有关的重要概念//039
5.2与计量学有关的重要概念//046
第6章
测量系统的分类及其分析方法
6.1测量系统的分类//054
6.2各类测量系统的分析方法//057
第7章
测量系统分析的时机
7.1MSA在APQP中出现的时机//059
7.2MSA分析时机评估原则//062
7.3MSA分析周期定义原则//063
第8章
可重复的测量系统的分析方法
8.1测量系统的特性//068
8.2测量系统的重复性与再现性//070
8.3测量系统的有效解析度(NDC)//084
8.4测量系统的偏倚和线性//091
8.4.1测量系统偏倚分析//094
8.4.2测量系统线性分析//101
8.5属性测量系统的一致性//107
8.5.1名义属性测量系统//109
8.5.2有序属性测量系统//111
8.5.3二进制属性测量系统//115
8.6测量系统的稳定性//125
8.6.1计量型测量系统的稳定性分析//127
8.6.2计数型测量系统的稳定性分析//132
第9章
粗大误差的剔除
9.1粗大误差的定义//140
9.2粗大误差的剔除方法//143
9.2.1拉依达准则//143
9.2.2格拉布斯准则//146
9.2.3狄克逊准则//151
0章
不可重复的测量系统的分析方法
10.1嵌套型测量系统的分析//156
10.2破坏性测量系统的分析//160
10.3假设检验//161
10.3.1假设检验的概念//162
10.3.2双样本t检验(2samplettest)//165
10.3.3配对t检验(pairedttest)//170
10.3.4单因素方差分析(1wayANOVA)//173
10.3.5F检验(Ftest)//179
10.3.6Bartlett检验(Bartletttest)//180
10.3.7MannWhitney检验(MannWhitneytest)//181
10.3.8KruskalWallis检验(KruskalWallistest)//184
10.3.9Mood′s中位值检验(Mood′smediantest)//187
10.3.10Levene′s检验(Levene′stest)//191
10.3.11等比率检验P(2proportiontest)//191
10.4相关性分析//195
10.5熵增原理//199
1章
参考手册导读
11.1参考手册的基本框架//205
11.2参考手册的重要指导精神//211
下篇·应用与实战
2章
抽样原则
12.1GRR分析抽样原则//218
12.2偏倚与线性分析的抽样原则//221
12.3属性的一致性分析抽样原则//224
12.4稳定性抽样原则//226
12.5数据平移//227
3章
盲测试验的安排
13.1手动测量系统的盲测//235
13.2自动化测量系统的盲测//237
4章
Minitab软件介绍
14.1Minitab的界面和功能//241
14.2Minitab在MSA中的应用指南//257
14.2.1GRR分析//257
14.2.2偏倚/线性分析//263
14.2.3属性的一致性分析//265
14.2.4统计稳定性分析//271
5章
测量系统分析策划与实操案例
15.1测量系统分析策划//274
15.2常规MSA方法应用案例//276
15.3替代MSA方法应用案例//289
15.4MSA的输出及报告模板范例//304
6章
测量系统分析结果解读
16.1GRR分析结果解读//309
16.2偏倚和线性分析的结果解读//315
16.3属性的一致性分析结果解读//320
7章
与测量结果相关的处理与表达
17.1数值修约//329
17.2单位制//330
17.3测量不确定度//335
8章
测量系统变异研究
18.1理想的测量系统//344
18.2过程变异//346
18.3变异源分析//347
18.4测量系统的改进//350
……