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书名 单板级JTAG测试技术
分类 科学技术-工业科技-电子通讯
作者 王承,刘治国编
出版社 国防工业出版社
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简介
内容推荐
本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
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更新时间:2025/4/2 3:46:57