《固体薄膜的光学表征》介绍了光学薄膜表征的多种技术，读者可以快速了解光学薄膜表征的技术水平和新发展方向。对具体的固体薄膜测试技术，不仅介绍了基本原理，而且结合典型例子进行说明，对薄膜表征具有非常好的借鉴意义。
《固体薄膜的光学表征》的主要内容包括四部分：第一部分为引论与建模（包括引论，光学和非光学相互结合的方法表征多孔氧化锆样品，宽光谱区薄膜表征的通用色散模型，从头计算预测光学特性）；第二部分为分光光度法和椭圆偏振光谱法（包括薄膜的反射光谱成像法光学表征，成像分光光度法的数据处理方法，单层膜与多层膜的在线和离线分光光度法）；第三部分为缺陷和波纹的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光学表征，光学薄膜的扫描探针显微技术表征，共振波导光栅结构，深紫外线栅偏振片的偏振控制）；第四部分为散射和吸收（包括光学薄膜的粗糙度与散射，光学薄膜中的吸收和荧光测量，光学薄膜表征的环形腔衰荡技术）。全书既讨论了表征技术的优点，也没有规避表征技术的缺点。全书对于固体薄膜技术领域内的应用基础研究和工程技术研究具有重要的参考价值，适合从事薄膜技术研究和应用领域的工程技术人员、研究生与高年级本科生阅读及使用，参与固体薄膜表征任务的科学家或工程师都能从书中获益。
在现代光学科学与工程应用领域，固体薄膜可以实现光谱分光、光束振幅调制、相位调控、色散修正等功能，在物理化学、材料科学、光电子学、光子学、太阳能转换、物理光学、半导体物理和激光等领域中广泛应用。无论是在光学领域应用还是非光学领域里的固体薄膜，与其相同成分的块体材料相比，两者之间具有较大的差异，体现在典型特性方面，如光学常数、微观结构、横向非均匀性、折射率梯度、表面粗糙度、孔隙、损伤、缺陷，几何结构、角分辨散射、极弱吸收和超高反射率等。随着固体薄膜应用的快速拓展，促进了固体薄膜表征技术的快速发展。
在2016年的德国一捷克共和国光学薄膜表征双边研讨会上，科学家们达成共识撰写了一部关于固体薄膜光学表征的书，由德国的Olaf Stenzel和捷克的Miloslav Ohlidal主编。本书的主题是当前固体薄膜光学表征领域的最新技术进展。一个目的是为现代薄膜表征技术提供指导，强调了多种表征技术联合使用展现的优势，尤其是非光学技术表征技术；另一个目的是强调建模的作用，展示的模型都是适用于目前工业和部分学术研究需要的、最广泛的薄膜表征问题。本书介绍了光学薄膜表征的多种技术，读者可以快速了解光学薄膜表征的技术水平和最新发展方向。对具体的固体薄膜测试技术，不仅介绍了基本原理，而且结合典型例子进行说明，对薄膜表征具有非常好的借鉴意义。
本书的主要内容包括四部分：第一部分为引论与建模（包括引论，光学和非光学相互结合的方法表征多孔氧化锆样品，宽光谱区薄膜表征的通用色散模型，从头计算预测光学特性）；第二部分为分光光度法和椭圆偏振光谱法（包括薄膜的反射光谱成像法光学表征，成像分光光度法的数据处理方法，单层膜与多层膜的在线和离线分光光度法）；第三部分为缺陷和波纹的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光学表征，光学薄膜的扫描探针显微技术表征，共振波导光栅结构，深紫外线栅偏振片的偏振控制）；第四部分为散射和吸收（包括光学薄膜的粗糙度与散射，光学薄膜中的吸收和荧光测量，光学薄膜表征的环形腔衰荡技术）。全书既讨论了表征技术的优点，也没有规避表征技术的缺点。本书对于固体薄膜技术领域内的应用基础研究和工程技术研究具有重要的参考价值，适合从事薄膜技术研究和应用领域的工程技术人员、研究生与高年级本科生阅读及使用，参与固体薄膜表征任务的科学家或工程师都能从本书中获益。
