《X射线衍射理论与实践》(Ⅱ)包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。
专题应用包括：宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节：从基础理论开始，导出实验原理和实验方法，最后结合科研需要，通过应用实例讲解，进行操作技能培训，并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。
针对Rietveld全谱拟合精修方法，第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础；第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具，提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。本书中重点内容和案例配有讲解视频，可扫码观看。本书同时配课件，教师可申请下载作为参考。
《X射线衍射理论与实践》(Ⅱ)中的内容和应用实例涵盖金属材料、无机非金属材料、高分子材料、化学、化工、物理、地质、矿冶工程等学科领域，可作为这些专业本科生、研究生的教学用书，对从事X射线衍射工作的技术人员和科研工作者也是很好的参考工具书。

第1章 宏观内应力的测量
1.1 内应力
1.2 基本原理
1.3 测试技术
1.4 实验方法
1.5 应用
1.5.1 测量铝合金抛丸处理后表面的残余应力
1.5.2 轴承钢沿深度方向的残余应力分布
1.6 讨论与实践
第2章 织构的测定与分析
2.1 织构及其分类
2.2 织构材料的衍射几何特征
2.3 织构的表示方法
2.4 直接极图
2.4.1 极图的定义
2.4.2 极图的测绘
2.4.3 组合试样法测绘完整极图
2.4.4 极图分析
2.5 反极图
2.5.1 反极图的生成
2.5.2 反极图的测绘方法
2.5.3 反极图的分析方法
2.6 取向分布函数
2.6.1 取向分布函数的计算
2.6.2 取向分布函数的分析
2.7 织构测量的应用
2.8 讨论与实践
第3章 Rietveld全谱拟合方法
3.1 Rietveld结构精修原理
3.1.1 X射线衍射谱的组成
3.1.2 Rietveld方法的基本原理
3.2 计算谱的构成
3.2.1 晶体结构
3.2.2 其他参数
3.2.3 计算谱的合成
3.3 Rietveld精修顺序
3.3.1 精修参数的分类
3.3.2 精修参数的选择
3.3.3 参数放开的顺序
3.4 精修指标
3.4.1 精修指标
3.4.2 残差图示
3.4.3 精修过程中可能出现的问题
3.5 精修的应用
3.6 Rietveld精修软件
3.7 讨论与实践
第4章 Rietveld精修实战（Jade）
4.1 Jade全谱拟合功能特色
4.2 精修流程
4.3 物相的读入
4.4 精修参数设置
4.5 全局变量精修
4.6 物相参数精修
4.7 晶体结构精修
4.8 精修显示与结果输出
4.9 Rietveld精修的应用
4.9.1 定量分析
4.9.2 晶胞参数精修
4.9.3 微结构与织构精修
4.9.4 晶体结构精修
4.9.5 Rietveld在物相检索中的应用
4.10 讨论与实践
第5章 Rietveld精修实战（Maud）
5.1 Maud的功能与安装
5.2 基本操作界面
5.3 简单精修
5.4 含非晶相的定量分析方法
5.5 仪器参数设置
5.6 含织构样品的定量分析
第6章 非晶态物质结构的X射线衍射分析
6.1 非晶态物质结构的主要特征
6.2 非晶态结构的径向分布函数
6.2.1 单一品种原子的径向分布函数
6.2.2 多元非晶态结构的径向分布函数
6.3 实验与数据处理
6.3.1 衍射强度分布IM（2θ）的测量
6.3.2 数据处理
6.4 应用
练习参考答案
附录
附录1　点群、空间群和劳厄群的符号和关系
附录2　应力测定常数
参考文献