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书名 电子晶体学与图像处理(科学前沿进展)(精)
分类 科学技术-自然科学-化学
作者 李方华
出版社 上海科学技术出版社
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简介
编辑推荐

这本著作首先从电子衍射的理论和实践出发,一直讲到如何用它来测定晶体的对称性和结构;然后论述了高分辨电子显微像的成像原理与衬度理论,以及用它来定晶体结构的传统方法;在最后一篇中介绍了电子晶体学中两步进行图像处理的新方法,作者自己的重要贡献构成了这一篇的主干,一些实例也多半取自她领导的研究组的工作。这本专著体现了作者的科学思想,又为新进入这一领域的研究生或研究工作者指出了掌握电子晶体学的一条康庄大道。这是一本优秀的科学著作,很值得翻译成英语出版,可望在国际学术界产生更广泛的影响。

内容推荐

本书是高分辨电子显微学和图像处理方面的专著,共分三篇,第一篇介绍了运动学和动力学衍射理论、各类电子衍射花样、晶体对称性的会聚束电子衍射测定、晶体结构的衍射分析方法,以及基于动力学电子衍射的晶体结构因子精确测定;第二篇介绍了高分辨电子显微像的成像原理、像衬度及其近似理论、像的理论计算以及借助高分辨电子显微像测定晶体结构的模型法;第三篇简单介绍了高分辨电子显微像的各种图像处理方法,着重于高分辨电子显微学的求逆,包括从显微像求定出射波和从显微像直接求定晶体结构。其中电子晶体学图像处理技术及其在测定晶体结构和缺陷中的应用是第三篇的重点,亦是全书的重点。

本书可作为从事电子晶体学研究和显微图像处理技术方面的研究人员和高等院校师生的参考书。

目录

第一篇 电子衍射

 第1章 运动学电子衍射理论

 第2章 动力学电子衍射理论

 第3章 电子衍射花样

 第4章 晶体对称性的会聚束电子衍射测定

 第5章 电子衍射晶体结构分析

 第6章 结构因子和电荷密度分布测定

第二篇 高分辨电子显微学

 第7章 成像原理

 第8章 像的衬度和模拟像

 第9章 模型法测定晶体结构

第三篇 电子晶体学图像处理

 第10章 高分辨电子显微像的图像处理

 第11章 像的解卷处理

 第12章 相位扩展与衍射强度校正

 第13章 微小晶体结构测定

 第14章 原子分辨率晶体缺陷测定

附录一 薛定谔方程的积分解

附录二 傅里叶变换与卷积

附录三 消光距离钿(nm)(电子加速电压为100 kV)

附录四 消光规律与点阵类型及微观对称元素的关系

附录五 平面群

附录六 230个空间群的GM线规律表

附录七 无公度调制结构

索引

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更新时间:2025/4/24 11:57:39