本书旨在讨论片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度明模块化SoC测试领域的诸多问题。
本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。
本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读，也可作为软件测试领域从业者的参考用书。

第1部分 经典测试方法
第1章 绪论
第2章 设计流程
2.1 引言
2.2 高层级设计
2.3 基于内核的设计
2.4 时钟
2.5 优化技术
第3章 可测性设计
3.1 引言
3.2 可测性设计方法
3.3 混合信号测试
第4章 边界扫描
4.1 引言
4.2 边界扫描标准
4.3 模拟测试总线
第2部分 SoC的可测性设计
第5章 系统建模
5.1 引言
5.2 内核建模
5.3 源端测试建模
5.4 内核封装器
5.5 测试访问机制
第6章 测试冲突
6.1 引言
6.2 测试仪器的局限性
6.3 测试冲突
6.4 讨论
第7章 测试功耗
7.1 引言
7.2 功耗
7.3 系统级功耗建模
7.4 功耗网的热点建模
7.5 内核级功耗建模
7.6 讨论
第8章 测试访问机制
8.1 引言
8.2 测试访问机制设计
8.3 测试时间分析
第9章 测试调度
9.1 引言
9.2 固定测试时间的测试调度
9.3 不固定（可变）测试时间的测试调度
9.4 最佳测试时间
9.5 集成测试调度和TAM设计
9.6 测试设计流程中的集成内核选择
9.7 进一步研究
第3部分 SoC测试应用
第10章 可重构的功耗敏感性内核封装器
10.1 引言
10.2 背景和相关工作
10.3 可重构的功耗敏感型内核封装器
10.4 最佳测试调度
10.5 实验结果
10.6 结论
第11章 用于设计和优化SoC测试解决方案的综合框架
11.1 引言
11.2 背景和相关工作
11.3 系统建模
11.4 SoC测试相关问题
11.5 启发式算法
11.6 模拟退火算法
11.7 实验结果
11.8 结论
第12章 基于内核设计的高效测试解决方案
12.1 引言
12.2 背景和相关工作
12.3 测试问题
12.4 我们的方法
12.5 实验结果
12.6 结论
第13章 片上系统测试设计流程中的内核选择
13.1 引言
13.2 背景
13.3 相关工作
13.4 问题构建
13.5 测试问题及其建模
13.6 测试设计算法
13.7 实验结果
13.8 结论
第14章 缺陷检测与测试调度
14.1 引言
14.2 相关工作
14.3 顺序测试调度
14.4 并行测试调度
14.5 测试调度算法
14.6 实验结果
14.7 结论
第15章 ATE内存约束下的测试向量选择和测试调度集成
15.1 引言
15.2 相关工作
15.3 问题构建
15.4 测试质量指标
15.5 测试调度和测试向量选择
15.6 实验结果
15.7 结论
附录 设计基准
附.1 引言
附.2 输入文件的格式
附.3 Kime设计
附.4 Muresan 10设计
附.5 Muresan 20设计
附.6 ASIC Z
附.7 扩展ASIC Z
附.8 System L
附.9 Ericsson（爱立信）设计
附.10 System S
参考文献