本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用，也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书。

第1章 集成电路测试概述
1.1 引言
1.1.1 集成电路测试的定义
1.1.2 集成电路测试的基本原理
1.1.3 集成电路测试的意义与作用
1.2 集成电路测试的主要环节
1.2.1 测试方案制定
1.2.2 测试接口板设计
1.2.3 开发测试程序
1.2.4 分析测试数据
1.3 集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势
1.3.1 集成电路测试的分类
1.3.2 集成电路测试行业现状及发展趋势
1.4 集成电路测试面临的挑战
1.4.1 行业发展挑战
1.4.2 测试技术挑战
第2章 数字集成电路测试技术
2.1 数字集成电路测试技术概述
2.2 通用数字电路与ASIC测试技术
2.3 通用数字电路常见可测试性设计技术
2.3.1 内建自测试技术
2.3.2 扫描设计测试技术
2.4 存储器测试技术
2.4.1 存储器的故障模式和故障模型
2.4.2 存储器测试方法
2.5 数字信号处理器测试技术
2.5.1 功能模块的测试算法
2.5.2 指令测试方法
2.5.3 测试内容
2.5.4 测试向量生成方法
2.6 微处理器测试技术
2.6.1 微处理器测试内容
2.6.2 微处理器测试方法
2.7 可编程器件测试技术
2.7.1 常用可编程器件概述
2.7.2 可编程器件测试方法
第3章 模拟集成电路测试技术
3.1 模拟集成电路测试技术概述
3.2 通用模拟电路测试技术
3.3 放大器测试技术
3.3.1 集成运算放大器的测试方法
3.3.2 集成运算放大器的参数测量
3.4 转换电路测试技术
3.4.1 电平转换器（LDO）
3.4.2 电压-频率转换器
3.5 模拟开关测试技术
……
第4章 数模混合集成电路测试技术
第5章 射频电路测试技术
第6章 SoC及其他典型电路测试技术
第7章 集成电路设计与测试的链接技术
第8章 测试接口板设计技术
第9章 集成电路测试设备
第10章 智能测试
附录A 集成电路测试实验
参考文献