第1章 X荧光技术的物理基础
1.1 特征X射线荧光的产生与莫塞莱定律
1.2 X荧光的激发与激发源
1.2.1 激发方式概述
1.2.2 放射性同位素源
1.2.3 低功率X射线光管
1.3 X荧光测量的有关单位
1.3.1 描述X射线物理性质的有关单位
1.3.2 描述X射线荧光测量量的有关单位
1.4 X荧光分析基本方程
1.5 现场X射线荧光测量干扰因素及其机理
1.5.1 概述
1.5.2 基体效应与校正
1.5.3 不平度效应与校正
1.5.4 不均匀效应与校正
1.5.5 水分的影响与校正
1.5.6 粉尘的影响与校正
参考文献
第2章 X荧光勘查技术的地球化学基础
2.1 X荧光勘查技术探测矿产的地球化学基本知识
2.1.1 一些基本概念
2.1.2 不同阶段矿产勘查的基本任务
2.2 X荧光法勘查矿产资源的地球化学基础
2.2.1 成矿元素具有较高丰度的勘查区
2.2.2 常见矿床的地球化学异常元素组合及其意义
2.3 解决携带(手提)式X射线荧光仪探测限不足的地球化学对策
2.3.1 间接指示元素与元素组的选择依据与方法
2.3.2 元素组总量的测量方法
参考文献
第3章 携带(手提)式X射线荧光仪探测器
3.1 携带(手提)式X射线荧光仪的基本结构概述
3.1.1 X射线荧光激发源
3.1.2 X射线探测器
3.1.3 电子线路单元及测量与控制软件
3.2 仪器探测器单元
3.2.1 探测器的基本参数
3.2.2 闪烁探测器结构与工作原理
3.2.3 正比计数器(第二代仪器的典型X射线探测器)
3.2.4 半导体探测器(第三、四代仪器的X射线探测器)
3.2.5 三类探测器性能比较
参考文献
第4章 携带(手提)式X射线荧光仪的硬件与软件
4.1 前置放大器
4.2 主放大器
4.3 多道脉冲幅度分析器
4.3.1 多道技术发展历史
4.3.2 模拟多道简介
4.3.3 数字多道设计
4.4 X荧光谱线的显示与处理
4.4.1 特征峰稳谱技术
4.4.2 能量刻度与元素识别
4.4.3 谱数据的平滑处理
4.4.4 寻峰
4.4.5 系统刻度
4.4.6 峰面积计算
4.5 X荧光谱线解析软件的基本结构与功能
4.5.1 软件框图和具体流程图
4.5.2 主要模块简介
参考文献
第5章 典型携带(手提)式X射线荧光仪简介
5.1 第一代基于闪烁探测器的携带(手提)式X射线荧光仪
5.1.1 第一代携带(手提)式X射线荧光仪发展简况
5.1.2 HYX-1型放射性同位素X射线荧光仪
5.1.3 HYX-2型(双道)X射线荧光仪
5.1.4 HYX-3型(400道)X射线荧光仪
5.2 第二代基于正比计数器的携带式X射线荧光仪
5.2.1 HYX-4型(程控多道)X射线荧光仪
5.2.2 HAD-512型携带式X射线荧光仪
5.3 第三、四代基于半导体探测器的携带(手提)式X射线荧光仪
5.3.1 第三代仪器：IED-2000P型手提式X射线荧光仪简介
5.3.2 第四代仪器：NTG-863X型手提式X射线荧光仪简介
5.4 其他国内外代表性手提式X射线荧光仪简介
5.4.1 国内代表性手提式X射线荧光仪
5.4.2 国外代表性手提式X射线荧光仪
参考文献
第6章 X荧光勘查野外工作方法
6.1 不同地质勘查阶段X荧光技术的工作任务
6.1.1 踏勘
6.1.2 普查
6.1.3 详查与勘探
6.2 携带(手提)式X射线荧光仪的性能测试
6.2.1 能量线性测试
6.2.2 能量分辨率的测试
6.2.3 灵敏度测试
6.2.4 检出限测试
6.2.5 准确度测试
6.2.6 精密度测试
6.2.7 稳定性测试
6.3 现场X荧光测量技术
6.3.1 水系沉积物X荧光测量
6.3.2 土壤X荧光测量
6.3.3 岩石X荧光测量
6.3.4 干扰因素影响与校正方法
参考文献
第7章 X荧光勘查数据处理与成果图编制
7.1 X荧光勘查数据质量审定及数据可靠性判别准则
7.1.1 X荧光勘查数据的质量控制与审定
7.1.2 X荧光测量中可疑数据的剔除准则
7.1.3 测量结果不确定度的评定
7.2 X荧光勘查数据的基本处理方法
7.2.1 数据的标准化与正规化
7.2.2 常用预处理方法——移动平均分析
7.2.3 背景值与异常下限值确定
7.3 X荧光勘查成果图件的编制
7.3.1 基本成果图
7.3.2 异常评价图
7.4 X荧光异常解释的基本原则
7.4.1 以地质为基础进行综合分析
7.4.2 垂向X荧光测量
7.4.3 判别分析作最终判别
7.4.4 对异常找矿意义的评价
参考文献
第8章 多元统计方法在X荧光勘查数据处理与解释中的应用
8.1 相关分析在X荧光勘查数据分析中的应用
8.1.1 Pearson简单相关系数
8.1.2 Spearman等级相关系数
8.1.3 相关分析及回归分析
8.1.4 多元素分析资料的统计整理
8.2 判别分析在X荧光异常性质判别中的应用
8.2.1 费希尔判别
8.2.2 模糊综合评判
8.2.3 模糊模

本书在对能量色散X射线荧光分析方法的物理原理，携带（手提）式X射线荧光仪的结构、工作原理及国内外主要商品化产品的技术性能进行介绍的基础上，系统讨论了基于携带（手提）式X射线荧光仪的X荧光勘查技术，包括现场测量方法、数据处理、图件编制、资料解释等。书中逐一针对天青石矿、金矿、铜矿、铅锌矿、（锂、钽等）稀有金属矿等的X荧光测量找矿技术问题进行了详细讨论，介绍了在这些矿产探矿工作中的成功应用实例。除此之外，本书还对X荧光测量技术在研究某些地质规律上的应用、利用现场X荧光测量信息直接确定矿石品位的射线荧光取样技术、钻孔中原位确定矿石品位的X荧光测井技术进行了较为详细的讨论。
本书可供从事核技术应用、核资源与核勘查工程、勘查地球物理与勘查地球化学的工程技术人员，相关专业的研究生与高年级本科生参考。