前言
第1章 光学薄膜参数及其测量
1.1 薄膜光学常数的测量
1.2 光学薄膜厚度的测量
1.2.1 轮廓仪测量法
1.2.2 光干涉测量法
参考文献
第2章 干涉法测量薄膜厚度原理
2.1 干涉测量装置
2.1.1 干涉仪
2.1.2 图像采集与处理系统
2.1.3 软件系统
2.2 干涉仪工作原理
2.3 干涉条纹图像的采集
2.4 干涉测长原理
2.5 薄膜测试样片制备
参考文献
第3章 干涉条纹法测量薄膜厚度
3.1 干涉条纹法原理
3.2 干涉条纹小数部分重合法
3.3 条纹法处理单幅干涉图方法及关键技术
3.3.1 干涉条纹小数部分的自动读取
3.3.2 干涉条纹整数部分K的确定
3.3.3 测量结果的修正
3.3.4 条纹法测量薄膜厚度的关键技术
3.4 干涉条纹法实测薄膜厚度结果分析
3.4.1 一号薄膜样片的测试结果及分析
3.4.2 二号薄膜样片的测试结果及分析
3.4.3 三号薄膜样片的测试结果及分析
参考文献
第4章 快速傅里叶变换法测量薄膜厚度
4.1 概述
4.2 FFT法测量薄膜厚度原理
4.2.1 基本原理
4.2.2 调制原理
4.2.3 数字化原理
4.3 FFT法测量薄膜厚度的关键技术
4.3.1 处理过程概述
4.3.2 干涉图的预处理
4.3.3 波面统一
4.4 FFT法实测薄膜厚度结果分析
4.4.1 FFT法对一号薄膜样片的测试处理结果及分析
4.4.2 FFT法对二号薄膜样片的测试处理结果及分析
4.4.3 FFT法对三号薄膜样片的测试处理结果及分析
参考文献
第5章 相位偏移干涉法测量薄膜厚度
5.1 概述
5.2 相位偏移干涉法测量薄膜厚度的原理
5.3 相位偏移干涉法测量薄膜厚度的关键技术
5.3.1 移相器及其标定技术
5.3.2 减小非线性误差算法
5.3.3 波面统一
5.3.4 干涉条纹图像波面复原
5.4 相位偏移干涉法实测薄膜厚度结果分析
5.4.1 一号样片测量结果及数据分析
5.4.2 二号样片测量结果及数据分析
5.4.3 三号样片测量结果及数据分析
5.4.4 四号样片测量结果及数据分析
5.4.5 Zygo干涉仪测量薄膜厚度实例
5.4.6 激光平面干涉仪测量薄膜厚度实例
参考文献
第6章 数字叠栅法测量薄膜厚度
6.1 概述
6.2 数字叠栅法测量薄膜厚度的原理
6.2.1 原理方法
6.2.2 数字叠栅技术处理静态干涉图范例
6.3 数字叠栅法测量薄膜厚度的关键技术
6.3.1 移相参考干涉图的生成
6.3.2 图像滤波提取莫尔信息
6.3.3 波面消倾斜
6.4 数字叠栅法实测薄膜厚度结果分析
6.4.1 一号薄膜样片测量结果及数据分析
6.4.2 二号薄膜样片测量结果及数据分析
参考文献
第7章 薄膜厚度测量的其他光干涉测试方法
7.1 波面错位干涉法测量薄膜厚度
7.1.1 波面错位的实现方法
7.1.2 错位干涉法测量原理
7.1.3 错位干涉法测量薄膜厚度实例
7.1.4 测试结果处理及分析
7.2 外差干涉法测量薄膜厚度
7.2.1 外差干涉法测量原理
7.2.2 外差干涉法测量薄膜厚度
7.3 条纹扫描法测量薄膜厚度
参考文献

光干涉测试技术是以波长为计量单位的现代光学测试技术的重要组成部分，具有测量结果准确、精度高、过程客观等优点。本书以光干涉测试技术为原理，以光学薄膜厚度参数为测量对象，介绍几种实现光学薄膜厚度测量的光干涉测试方法，包括干涉条纹法、快速傅里叶变换法、相位偏移干涉法、数字叠栅法，以及错位干涉法、外差干涉法和条纹扫描法。本书是作者研究工作的系统总结，具有理论与实践密切结合、论述系统深入、测试结果来源于工作实际的特点。
本书可作为光电测试专业的研究生教科书，也可作为现代光学测试技术人员的参考资料。