第1章 I/O Library介绍
1.1 I/O Library的特征
1.2 I/O Library的设计流程
1.3 研究工艺的特点
1.4 设计测试芯片
1.5 ESD测试模块
第2章 ESD——I/O Library的第一道墙
2.1 ESD 现象
2.2 半导体芯片中的ESD失败现象
2.3 电路可靠性——ESD测试模型
2.4 ESD标准测试模型的测试组合
2.5 ESD标准测试模型的测试误差
2.6 输入/ 输出管脚ESD器件的设计和布局
参考文献
第3章 闩锁和保护环
3.1 闩锁的机理
3.2 防止闩锁的方法
3.3 Latch-up的测试方法
参考文献
第4章 I/O电路设计
4.1 通用型I/O数据规范和设计
4.2 传输线现象
4.3 GPIO的输出模块
4.4 GPIO的输入模块
4.5 模拟输入信号
4.6 混合电压输入/ 输出电路
4.7 高压容忍电路中的输入/ 输出电路
4.8 输出电路的布局
4.9 I/O的电源线分布
4.10 Bond PAD的位置和布局
4.11 内核面积决定化和PAD面积决定化
参考文献
第5章 高速I/O电路
5.1 电路补偿
5.2 DDR
5.3 LVDS
参考文献
第6章 I/O Library的模型
6.1 综合模型
6.2 行为模型
6.3 IBIS模型
参考文献
结束语

王国立著的《芯片接口库I\\O Library和ESD电路的研发设计应用》理论和实践相结合，首先概略介绍了I/O Library，包括I/O Library在芯片设计中的功能、设计流程等；接着介绍了I/O电路中的ESD现象、ESD的测试方法和多种ESD保护功能模块的设计；然后着重讲解闩锁现象、GPIO的功能电路以及高速I/O电路的电路补偿方法等；最后展望了I/O Library的未来发展。