本书重点讲述基本参数法，包括理论强度的计算、计算所需的基本参数、基本参数的优化、基本参数法的实现和应用，为了方便读者，附表中还列出了重要的基本参数。

本书共分7章，其中第1章简要介绍X射线荧光光谱的基本原理，第2章讲述基本参数及其优化，第3章讲述理论强度的计算，第4章讲述散射对理论荧光强度的影响，第5章则讲述了多层膜样品中荧光强度计算的问题，第6章介绍了如何实现基本参数法，第7章是应用实例。

本书是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中，作者结合自己的研究成果和实践经验，系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。

本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读，也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。

第1章 X射线荧光光谱分析概述

第2章 基本参数法中的基本参数

第3章 理论强度计算和基本参数优化

第4章 散射效应增强荧光强度基本参数计算

第5章 多层膜样品X射线荧光强度计算中的问题

第6章 基本参数法的实现

第7章 基本参数法的应用

附表