Steven H. Voldman教授所著的《ESD射频技术与电路》，在于帮助ESD工程师与射频电路工程师在半导体器件工艺与电路间取得一个平衡。

本书首要目的是讲述一个设计新领域的基础知识，即我们所谓的“无线电射频兼顾ESD设计”基础。为了强调这一新领域的独特性，我们必须先区分射频中的ESD与传统数字电路设计中所考虑的ESD原则，它们是截然不同的需求。当然，我们更要强调“射频ESD设计”也绝不同于“射频设计”。本书的目的是要说明射频技术方法论是如何改变了基本ESD的实际操作的。这包含了耦合、去耦、缓冲、镇流、触发、分流和分配。因此，目的是讲述一个新的设计方法——射频ESD设计，它包含了诸多方法，如替代法、消除法、负载分配、阻抗隔离以及诸多其他从无线电射频领域中所领会到的ESD设计技巧。

《ESD射频技术与电路》是Steven H. Voldman教授所著的《ESD RF Technology and Circuits》的中文翻译版，全书系统地介绍了射频ESD设计的基础知识及概念；射频ESD设计合成及方法论的细节，如代换、消除等射频ESD设计方法和阻抗隔离等ESD技术；RF CMOS ESD 保护元件，并分别从射频和ESD的角度对静电防护策略上的异同进行了比较；RF CMOS静电防护电路；ESD和双极工艺；锗硅半导体、碳锗硅和静电防护；砷化镓、铟镓砷及其静电防护技术；双极电路及其静电防护；静电防护设计方法；非半导体类的静电防护解决方案以及芯片外的静电保护技术与观念。

《ESD射频技术与电路》为作者的ESD系列专著的第三本，对于专业集成电路设计和射频ESD领域工程师具有很高的参考价值。《ESD射频技术与电路》可以作为工艺、质量、可靠性和误差分析工程师的工具书，也可作为微电子学和集成电路设计专业高年级学生和研究生的参考书。

第1章 射频设计和ESD

 1.1 ESD设计的基本概念

 1.2 射频ESD的基本概念

 1.3 射频ESD的主要成果

 1.4 射频ESD的关键专利

 1.5 ESD失效机制

1.5.1 射频CMOS ESD失效机制

1.5.2 锗硅器件的ESD失效机制

1.5.3 硅锗碳器件的ESD失效机制

1.5.4 砷化镓技术ESD失效机制

1.5.5 铟镓砷ESD失效机制

1.5.6 射频双极型电路ESD失效机制

 1.6 射频基础

 1.7 双端口网络参数

1.7.1 Z参数

1.7.2 Y参数

1.7.3 S参数

1.7.4 T参数

 1.8 稳定性：射频设计稳定性与ESD

 1.9 器件性能退化和ESD失效

1.9.1 ESD导致的直流参数漂移和失效标准

1.9.2 射频参数、ESD退化以及失效标准

 1.10 射频ESD测试

1.10.1 ESD测试模型

1.10.2 射频最大功率失效和ESD脉冲测试方法

1.10.3 ESD导致的射频退化和S参数评估测试方法

 1.11 ESD测试中时域反射计（TDR）和阻抗方法学

1.11.1 时域反射（TDR）ESD测试系统评估

1.11.2 ESD退化系统级方法——眼图测试

 1.12 产品级ESD测试和射频功能性参数失效

 1.13 组合射频和ESD TLP测试系统

 1.14 小结

 习题

 参考文献

第2章 射频ESD设计

第3章 射频CMOS和ESD

第4章 射频CMOS ESD网络

第5章 双极型晶体管物理特性

第6章 锗硅和ESD

第7章 砷化镓工艺中的ESD

第8章 双极型晶体管接收机电路与ESD网络

第9章 射频和ESD计算机辅助设计

第10章 可替代ESD概念：片上和片外ESD保护解决方案

参考文献

名词术语