在半导体集成电路的设计与制造过程中，测试的重要性越来越突出，有关数字系统测试方面的书籍也不断出现，本书是这些书籍中内容十分全面丰富的一本。本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识，包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等，高级内容方面包括/DDQ测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试、存储器测试以及故障诊断等，并论述了最新的测试技术，包括各种故障模型的测试生成、集成电路不同层次的测试技术以及系统芯片的测试综合等，其内容涵盖了当前数字系统测试与可测试性设计方面的基础知识与研究现状等。

器件测试是半导体工业中制造成本最高的一项。本书是该领域书籍中内容最全面、最丰富的一本，涵盖了这个极其重要的领域中需要了解的所有内容。作者从基本内容开始，先向读者介绍了数字电路的测试向量自动生成、可测性设计和内建自测试，然后讨论了更高级的内容，如/DDQ测试、功能测试、延迟故障测试、存储器测试和故障诊断等。本书中包含了最新的技术内容，包括各种故障模式的测试生成、集成电路不同层次的测试技术的讨论等，并有一章专门讨论了系统芯片的测试综合。本书适合于高等学校计算机、微电子、电子工程等专业的学生和工程技术人员使用，它既可以作为高年级本科生和研究生的教材，也是一本很有价值的参考书。

内容简介

序

出版说明

译者序

序言

第1章 绪论

 1.1 故障及其表现

 1.2 故障分析

 1.3 测试分类

 1.4 故障覆盖率要求

 1.5 测试经济学

 小结

 习题

 参考文献

第2章 故障模型

 2.1 电路的不同抽象层次

 2.2 不同抽象层次的故障模型

 2.3 归纳故障分析

 2.4 故障模型间的关系

 小结

 习题

 参考文献

第3章 组合逻辑与故障模拟

 3.1 简介

 3.2 预备知识

 3.3 逻辑模拟

 3.4 故障模拟基础

 3.5 故障模拟方式

 3.6 近似的低复杂度故障模拟

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第4章 组合电路的测试生成

 4.1 简介

 4.2 复合电路表示与值系统

 4.3 测试生成基础

 4.4 蕴涵

 4.5 结构化测试生成算法：预备知识

 4.6 特定的结构化测试生成情况

 4.7 非结构化测试生成技术

 4.8 测试生成系统

 4.9 减少测试中散热和噪声的测试生成

 小结

 补充阅读材料

 习题

 附录4.A 蕴涵过程

 参考文献

第5章 时序电路的测试向量自动生成

 5.1 时序ATPG方法与故障的分类

 5.2 故障压缩

 5.3 故障模拟

 5.4 同步电路的测试生成

 5.5 异步电路的测试生成

 5.6 测试压缩

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第6章 /DDQ测试

 6.1 简介

 6.2 组合ATPG

 6.3 时序ATPG

 6.4 组合电路的故障诊断

 6.5 内建电流检测器

 6.6 基于电流检测测试的先进概念

 6.7 /DDQ测试的经济学

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第7章 功能测试

 7.1 通用测试集合

 7.2 伪穷举测试

 7.3 重复逻辑阵列测试

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第8章 延迟故障测试

 8.1 简介

 8.2 组合测试生成

 8.3 组合故障模拟

 8.4 组合延迟故障诊断

 8.5 时序测试生成

 8.6 时序故障模拟

 8.7 延迟故障测试的缺陷与补救方法

 8.8 非常规的延迟故障测试技术

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第9章 CMOS测试

 9.1 动态CMOS电路的测试

 9.2 静态CMOS电路的测试

 9.3 健壮性可测性设计

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第10章 故障诊断

 10.1 简介

 10.2 符号与基本定义

 10.3 用于诊断的故障模型

 10.4 因果诊断

 10.5 果因诊断

 10.6 诊断的向量生成

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第11章 可测试性设计

 11.1 引言

 11.2 扫描设计

 11.3 部分扫描

 11.4 扫描链的组织和应用

 11.5 边界扫描

 11.6 其他测试目标的可测试行设计

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第12章 内建自测试

 12.1 简介

 12.2 测试向量生成器

 12.3 测试长度估算

 12.4 改善可测性的测试点

 12.5 对给定电路定制向量生成器

 12.6 响应压缩

 12.7 线性压缩的混淆现象分析

 12.8 BIST方法学

 12.9 原位内建自测试方法学

 12.10 基于扫描的BIST方法

 12.11 延迟故障测试的：BIST

 12.12 减少开关动作的BIST技术

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第13章 可测试性综合

 13.1 固定故障可测试性的组合逻辑综合

 13.2 延迟故障可测试性的组合逻辑综合

 13.3 固定故障可测试性的时序逻辑综合

 13.4 延迟故障可测试性的时序逻辑综合

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第14章 存储器测试

 14.1 存储器测试的目标

 14.2 存储器芯片的建模

 14.3 简化的功能故障

 14.4 传统测试

 14.5 行程测试

 14.6 伪随机存储器的测试

 小结

 习题

 参考文献

第15章 高级测试综合

 15.1 简介

 15.2 RTL测试生成

 15.3 RTL故障仿真

 15.4 RTL的可测性设计

 15.5 RTL的内建自测试

 15.6 可测试性的行为改进

 15.7 可测试性的行为综合

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献

第16章 系统芯片的测试综合

 16.1 简介

 16.2 核级测试

 16.3 核测试访问

 16.4 核测试包

 小结

 补充阅读材料

 习题

 参考文献