本书涉及的主要测试技术有X射线衍射技术（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM和STEM）、红外光谱（IR）和拉曼光谱（RamanSpectra），辅助介绍了X射线荧光光谱仪（XRF）、X射线光电子能谱仪（XPS）和俄歇电子能谱（AES）等。本教材的基础定位是材料学相关学科的本科教学用书，因此在内容选择上侧重基础理论和应用。本教材系统讲述了每种技术的基本原理、设备与实验、分析方法和用途，同时引用了近年来新发表论文中的应用实例来加深对理论知识和实验的理解。每章后有本章小结，以思维导图的形式进一步厘清了章节的逻辑脉络，便于学生阅读后形成清晰的概念体系；章节末尾设置了思考题，引导学生独立思考、深入学习。在写作方面，本教材力求深度适中，知识结构合理，通俗易懂。

1晶体学基础
1.1晶体的宏观对称及点群
1.2空间格子
1.3晶体的微观对称及空间群
1.4等效点系及原子坐标
1.5倒易点阵
本章小结
思考题
2X射线物理学基础
2.1X射线的发现及在晶体学中的应用和发展
2.2X射线的性质
2.3X射线的产生与X射线谱
2.4X射线与物质的相互作用
2.5X射线的探测与防护
本章小结
思考题
3X射线衍射方向
3.1劳埃方程
3.2布拉格方程
3.3衍射矢量方程及厄瓦尔德图解法
本章小结
思考题
4X射线衍射强度
4.1单电子对X射线的散射强度
4.2单原子对X射线的散射强度
4.3单个晶胞对X射线的散射强度
4.4单个理想小晶体对X射线的散射强度
4.5多晶体的衍射强度
4.6晶体结构与X射线粉晶衍射图谱的关系举例
本章小结
思考题
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