本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两篇。半导体物理实验包括单晶硅的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型的测定、四探针法测量半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导衰减法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS管的C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。半导体器件实验包括发光二极管特性参数测量、稳压二极管特性参数测量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻的测量、晶体管特征频率的测量、数字电桥测量电位器的电阻值、集成电路特性参数测量、太阳能电池参数测量等十个实验。
本书可作为微电子、集成电路及电子科学技术等专业的半导体物理实验及半导体器件实验教材或教学参考书。

上篇 半导体物理实验
实验一 单晶硅的激光定向
实验二 单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示
实验三 半导体材料导电类型的测定
实验四 四探针法测量半导体电阻率
实验五 霍尔效应实验
实验六 高频光电导衰减法测少子寿命
实验七 半导体材料光学特性的测量
实验八 MOS管的C-V特性测量
实验九 PN结势垒特性及杂质的测试分析
实验十 PN结正向特性的研究和应用
下篇 半导体器件实验
实验十一 发光二极管特性参数测量
实验十二 稳压二极管特性参数测量
实验十三 双极型晶体管直流参数测量(1)
实验十四 双极型晶体管直流参数测量(2)
实验十五 场效应管直流参数测量
实验十六 晶体管基极电阻的测量
实验十七 晶体管特征频率的测量
实验十八 数字电桥测量电位器的电阻值
实验十九 集成电路特性参数测量
实验二十 太阳能电池参数测量
参考文献
附录一 Excel中自动拟合曲线的方法
附录二 YB4811型半导体管特性图示仪使用说明
附录三 YB2811LCR数字电桥简介