图字：01-2023-2410号本书旨在阐述ASIC物理设计所需的基本步骤，方便读者了解ASIC设计的基本思想。本书以行业通用ASIC物理设计流程顺序进行编排，从ASIC库的一般概念开始，依次介绍布局、布线、验证及测试，涵盖的主题包括基本标准单元设计、晶体管尺寸和布局风格、设计约束和时钟规划、用于布局的算法、时钟树综合、用于全局和详细布线的算法、寄生参数提取、功能验证、时序验证、物理验证、并联模块测试等。与直接阐述深层次的技术不同，本书重点放在简短、清晰的描述上，抓住物理设计的本质，向读者介绍物理设计工程的挑战性和多样化领域。
本书可供从事ASIC物理设计的工程师及设计经理参考，也可供高等院校电子科学与技术、电子信息科学与技术、计算机科学与技术、通信工程等专业师生阅读。

第1章 库
1.1 标准单元
1.2 晶体管尺寸
1.3 输入/输出PAD
1.4 库参数化
1.5 总结
参考文献
第2章 布局规划
2.1 技术文件
2.2 电路描述
2.3 设计约束
2.4 设计规划
2.5 PAD布局
2.6 电源规划
2.7 宏模块布局
2.8 时钟规划
2.9 总结
参考文献
第3章 布局
3.1 全局布局
3.2 局部布局
3.3 时钟树综合
3.4 功耗分析
3.5 总结
参考文献
第4章 布线
4.1 特殊布线
4.2 全局布线
4.3 详细布线
4.4 寄生参数提取
4.5 总结
参考文献
第5章 验证
5.1 功能验证
5.2 时序验证
5.3 物理验证
5.4 总结
参考文献
第6章 测试
6.1 功能测试
6.2 扫描测试
6.3 边界扫描测试
6.4 故障测试
6.5 参数测试
6.6 电流和极低电压测试
6.7 晶圆验收测试
6.8 存储器内建自测试
6.9 并联模块测试
总结
参考文献